布魯克三維X射線顯微鏡（XRM）整合了微計算機斷層掃描（micro-ct）硬件與專用軟件，打造出了全面的顯微成像可視化解決方案。布魯克XRM解決方案，從微米級分辨率的臺式儀器到納米分辨率的落地式儀器應(yīng)有盡有，實現(xiàn)了易用性和功能性的完美平衡。
從測量地質(zhì)樣品的孔隙率到片劑藥物多層包衣的厚度，乃至電路的片上和板級互連結(jié)構(gòu)，XRM均可快速展開多尺度分析。得益于XRM的非破壞特性，您將能驗證組件的完整性，從而將增材制造等制造技術(shù)的質(zhì)控帶向新高度。